PAI 系统 - 集成了DPAT和Wafer Map自动Ink功能，为汽车芯片提供双重质量保证
PAI系统的DPAT算法可以用于FE和BE测试数据，从参数分布的维度筛选掉outlier。
PAI系统的DPAT Limit File可以让用户自由选择DPAT测试项和sigma数量。
PAI系统的Auto Ink模块可以用于FE数据，从Map维度按照设定的规则进行自动ink。
PAI系统支持多种ink规则：Cluster Fail, GDBN, Z-PAT, Fixed Location。
PAI系统支持多种输入数据格式，我们也可以为客户的特殊数据格式定制解析器。
PAI系统支持多种输出数据格式，包括black list, white list, 执行summary和各种map格式
我们可以为客户定制多种输出数据格式来适配客户的系统
PAI系统的专用STDF引擎提供了快速的STDF解析和输出，提高了数据吞吐量。
自动融合DPAT和AutoInk结果提供双重质量保障
DPAT支持By Site计算防止Site difference带来的良率丢失
PAI系统可以通过json文件向客户系统推送通知和数据
PAI系统的Ink引擎提供了快速的map inking